Charakterystyka odbiciowa inteligentnych matryc antenowych

TL;DR

Niniejszy artykuł bada charakterystyki odbiciowe rekonfigurowalnych matryc antenowych (RMA) w środowisku nieidealnym, wykorzystując popularne macierze z OpenSourceRIS. Autorzy realizują dwuwymiarową i trójwymiarową charakterystykę odbiciową przy 5.5 GHz na macierzy 16×16, gdzie każdy element jest sterowany binarnie, a eksperymenty są zautomatyzowane za pomocą Pythona. Wyniki pokazują silną zależność od kąta azymutu i elewacji, z różnicami do ok. 20 dB między wzorcami i warunkami pomiarowymi; niektóre wzorce generują maksima w 90°, inne prowadzą do wielu maksima/minima zależnych od układu aktywacji elementów. Te obserwacje sugerują możliwość stworzenia „książki kodowej” wzorców RIS, która mogłaby służyć do projektowania środowisk propagacyjnych i poprawy jakości sygnału w przyszłych sieciach 6G.

Abstract

This paper presents the results of reflection characteristics measurements for reconfigurable intelligent surfaces (RIS). The measurements were carried out in a non-ideal environment, i.e. typical for subsequent practical use of RISes. During the experiments, popular matrices implemented in the open-source project OpenSource- RIS were used. The study focused on obtaining two types of reflection characteristics - two- and three-dimensional.

Figures (6)

• Figure 1: Wizualizacja wzorców.
• Figure 2: Schemat pomiaru charakterstyki odbiciowej w jednej płaszczyźnie.
• Figure 3: Schemat pomiaru charakterystyki przestrzennej.
• Figure 4: Wyniki pomiarów charakterystki odbiciowej
• Figure 5: Wyniki pomiarów charakterystki odbiciowej dla różnyh kątów elewacji dla wzorców 1 i 2.